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澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過電子槍與樣品倉的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡原位拉伸一體機(jī)由澤攸科技生產(chǎn)，具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV，可進(jìn)行1kV步進(jìn)調(diào)整，最高放大倍率為36萬倍，分辨率可達(dá)5納米。該設(shè)備支持樣品臺(tái)減速模式，無需噴金即可觀察弱導(dǎo)電樣品，并配備有超大樣品艙，可集成多種原位拓展平臺(tái)。電子槍采用預(yù)對中鎢燈絲設(shè)計(jì)，一體化聚光鏡，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)物鏡光闌，可選配LaB6燈絲。此外，它還配備了五軸全自動(dòng)樣品臺(tái)。

澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過電子槍與樣品倉的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。