澤攸科技

【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創(chuàng)新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

產(chǎn)品型號：能譜一體
更新時間：2025-05-08
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

澤攸科技臺式掃描電鏡能譜一體機

產(chǎn)品介紹

澤攸科技

ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機是一款分辨率高、功能豐富的臺式掃描電鏡。采用更加寬泛的加速電壓，1KV步進，最高放大36萬倍，分辨率可達nm。在樣品臺減速模式下，弱導電樣品無需噴金也能實時觀察。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

• 能譜儀參數(shù)

▲ 集成OxfordXploreCompact30能譜分析系統(tǒng)SuperATW窗口30mm2面積活區(qū)

▲ 分辨率優(yōu)于129eV（MnKα處）無需液氮冷卻

▲ 分析元素范圍：B5-Cf98

▲ 點、線、面掃描分析

▲ 全中文軟件操作界面（中英文切換功能）

• 電鏡主機特色

▲ 真空分隔技術：采用真空設計，電子槍和樣品倉真空分離，換樣時間小于1min。

▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲空間，方便用戶操作。

▲ 超高分辨率：極限放大倍數(shù)達到36萬倍，分辨率4nm@20kV。

▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。

▲ 倉內(nèi)攝像頭：樣品倉內(nèi)置高清攝像頭，原位實驗時可實時監(jiān)測樣品原位變化。

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